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Detalles de los productos

Created with Pixso. En casa Created with Pixso. Productos Created with Pixso.
Substratos de cristal único
Created with Pixso. No se ha dopado COC Czochralski 0,5 mm Si Wafer de silicio de cristal único

No se ha dopado COC Czochralski 0,5 mm Si Wafer de silicio de cristal único

Nombre De La Marca: Crystro
Número De Modelo: Se aplicará el método de cálculo de las emisiones de CO2.
Cuota De Producción: 1 por ciento
Tiempo De Entrega: 4-5weeks
Condiciones De Pago: T/T, Western Union, MoneyGram, PayPal y otras formas de pago.
Información detallada
Lugar de origen:
China
Certificación:
SGS/COC
El material:
Si
Nombre del producto:
Cristales simples de silicio
Composición química:
99.999%
Superficie:
con una o dos caras pulidas
Tamaño estándar:
el diámetro es igual o superior a 1 mm, el diámetro es igual o superior a 0,5 mm, el diámetro es igu
Tipo de dopaje:
No dopado
EPD ((cm-2):
≤ 100
Resistencia:
102 ~ 104 ohm-cm
Detalles de empaquetado:
Caja limpia transparente
Capacidad de la fuente:
100000 PCS por mes
Resaltar:

Wafer de silicio de cristal único COC

,

0Wafers de Si de Czochralski de.5 mm

,

Czochralski

Descripción del producto

Superficie pulida de silicio Si de cristal único

 

El silicio amorfo negro se obtiene mediante la reducción de arena (SiO2) con carbono.agua y ácidos (excepto HF)El silicio se utiliza en semiconductores, aleaciones y polímeros.

 

Material: Silicio

Tipo de dopaje: sin dopaje
Resistencia Ω. Cm: 102~104
EPD ((cm-2): ≤ 100
Dirección cristalográfica: < 111>; < 100>; < 110> ± 0,5°
Las especificaciones regulares son: diámetro 2x0,5 mm, diámetro 3x0,5 mm, diámetro 4x0,5 mm, diámetro 5", diámetro 6", diámetro 8".
Superficie: una o dos caras pulidas

 

 

CRYSTRO suministra cristal GGG con:

Estado miembro Cristales únicos
Estructura de cristal Diamante
Método de crecimiento Czochralski
Tamaño estándar Diámetro 20-80 mm, espesor 05-1 mm
Pulido Polido de una o dos caras
La rugosidad < 0,03um
Purificación 99.999%

 

 

 

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Created with Pixso. No se ha dopado COC Czochralski 0,5 mm Si Wafer de silicio de cristal único

No se ha dopado COC Czochralski 0,5 mm Si Wafer de silicio de cristal único

Nombre De La Marca: Crystro
Número De Modelo: Se aplicará el método de cálculo de las emisiones de CO2.
Cuota De Producción: 1 por ciento
Detalles Del Embalaje: Caja limpia transparente
Condiciones De Pago: T/T, Western Union, MoneyGram, PayPal y otras formas de pago.
Información detallada
Lugar de origen:
China
Nombre de la marca:
Crystro
Certificación:
SGS/COC
Número de modelo:
Se aplicará el método de cálculo de las emisiones de CO2.
El material:
Si
Nombre del producto:
Cristales simples de silicio
Composición química:
99.999%
Superficie:
con una o dos caras pulidas
Tamaño estándar:
el diámetro es igual o superior a 1 mm, el diámetro es igual o superior a 0,5 mm, el diámetro es igu
Tipo de dopaje:
No dopado
EPD ((cm-2):
≤ 100
Resistencia:
102 ~ 104 ohm-cm
Cantidad de orden mínima:
1 por ciento
Detalles de empaquetado:
Caja limpia transparente
Tiempo de entrega:
4-5weeks
Condiciones de pago:
T/T, Western Union, MoneyGram, PayPal y otras formas de pago.
Capacidad de la fuente:
100000 PCS por mes
Resaltar:

Wafer de silicio de cristal único COC

,

0Wafers de Si de Czochralski de.5 mm

,

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Superficie pulida de silicio Si de cristal único

 

El silicio amorfo negro se obtiene mediante la reducción de arena (SiO2) con carbono.agua y ácidos (excepto HF)El silicio se utiliza en semiconductores, aleaciones y polímeros.

 

Material: Silicio

Tipo de dopaje: sin dopaje
Resistencia Ω. Cm: 102~104
EPD ((cm-2): ≤ 100
Dirección cristalográfica: < 111>; < 100>; < 110> ± 0,5°
Las especificaciones regulares son: diámetro 2x0,5 mm, diámetro 3x0,5 mm, diámetro 4x0,5 mm, diámetro 5", diámetro 6", diámetro 8".
Superficie: una o dos caras pulidas

 

 

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Estructura de cristal Diamante
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Tamaño estándar Diámetro 20-80 mm, espesor 05-1 mm
Pulido Polido de una o dos caras
La rugosidad < 0,03um
Purificación 99.999%